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陶瓷基上化学镀铜

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标签:镀层技术,涂覆工艺,http://www.5idzw.com 陶瓷基上化学镀铜,http://www.5idzw.com

1  前言
    陶瓷具有各向同性、高耐磨、高强度、高绝缘、低热膨胀系数等优良的性能。陶瓷表面金属化不仅解决了陶瓷微粒与金属基体的浸润问题,而且通过焊接可使陶瓷与电子元件相连接。因此,可广泛用于航空航天和微电子工业。
    以甲醛作还原剂的化学镀铜液在施镀过程中除Cu2+被还原而沉积外,还存在形成Cu2O及其歧化反应的副反应,从而导致镀液分解、沉积速率下降和镀层性能恶化等问题[1]。故应在镀液中加入适宜的添加剂,如亚铁氰化钾和a,a’-联吡啶以提高镀液的稳定性,减少副反应和改善镀层性能。董超[1]等应用电化学恒电势扫描法研究了a,a’-联吡啶、L-精氨酸和亚铁氰化钾等添加剂的极化行为,指出这三种添加剂在化学镀铜中均起稳定作用,但作用机理不尽相同。刘兴平[2]研究了甲醇、亚铁氰化钾和a,a’-联吡啶对化学镀铜液稳定性的影响,结果发现,三者混合使用对镀液的稳定效果比单独使用时好。本文探索了镀液中存在a,a’-联吡啶和亚铁氰化钾时的化学沉积铜过程,根据镀液沉积速率经验方程[3,4],研究了镀液中a,a’-联吡啶和亚铁氰化钾对铜沉积活化能的影响,并探讨了温度和添加剂对镀液和镀层性能的影响。
2 实验部分
2.1 镀液基础配方
    镀液基础配方为:CuSO4·5H2O 28.0g/L,乙二胺四乙酸二钠44.0g/L,NaOH 20.0g/L,甲醛(37%)11.0 ml/L,用去离子水配制溶液。
2.2 实验方法
    将半径为0.75cm的陶瓷片进行清洗→粗化→敏化→活化→还原等预处理[5]。化学镀铜在250mL的烧杯中进行,镀液体积为100mL,陶瓷片悬挂在镀液中,施镀过程中不断地用空气搅拌器鼓入空气。在保持其它组分和工艺条件不变的前提下,控制温度为35℃、40℃、45℃、50℃、55℃、60℃、65℃和70℃,进行化学镀铜。根据化学镀前后的质量变化、所用时间,求得沉积速率。
3 化学镀铜基本过程及反应活化能
    化学镀铜按下列两个半反应进行,
    阳极反应:2HCHO十4OH-→2HCOO-十2H2O十H2十2e
    阴极反应:Cu(EDTA)2-十2e→Cu+ED-TA4-
    总反应:Cu(EDTA)2-十2HCHO十4OH-→Cu十2HCOO-十H2十2H2O十ETTA4-
    化学镀铜沉积速率受镀液温度、铜离子浓度、甲醛浓度、络合剂浓度、稳定剂浓度和pH值的影响。由于添加剂也影响化学镀铜基本过程,因此,上述4种配方的化学镀铜沉积速率为:
    υ1=K[Cu2+]a[HCHO]b[OH-]c[ED-TA4-]dexp(-Ea1/RT)
    υ2=K[Cu2+]a[HCHO]b[OH-]c[ED-TA4-]d[K4Fe(CN)6]eexp(-Ea2/RT)
    υ3=K[Cu2+]a[HCHO]b[OH-]c[ED-TA4-]d[a,a-联吡啶]fexp(-Ea3/RT)
    υ4=K[Cu2+]a[HCHO]b[OH-]c[ED-TA4-]d[K4Fe(CN)6]e[a,a’-联吡啶]fexp(-Ea4/RT)
    因为[Cu2+]、[HCHO]、[OH-]、[ED-TA4-]浓度保持不变,故可令A=K[Cu2+]a[HCHO]b[OH-]c[EDTA4-]d为常数,所以上述方程式可简化为:
    υ1=Aexp(-Ea1/RT)  (1)
    υ2=A[K4Fe(CN)6]eexp(-Ea2/RT)(2)
    υ3=A[a,a’-联吡啶]fexp(-Ea3/RT)(3)
    υ4=A[K4Fe(CN)6]e[a,a’-联吡啶]f
exp(-Ea4/RT)  (4)
式中Ea为沉积铜的化学反应活化能,T为工作温度,a、b、c、d、e、f、e’、f’为动力学参数。
4 结果与讨论
4.1 化学镀铜活化能和沉积速率
    图1为实验所得的铜沉积速率与镀液的工作温度的变化关系,图中直线为计算机模拟所得。表1则表示对应于图1的斜率和截距。由图1可知,在同一镀液温度下,相对于不含添加剂镀液(曲线1),a,a’-联吡啶、K4Fe(CN)6的加入,使得铜沉速率下降,可见它们对铜的化学沉积有阻碍作用;沉积速率的对数值(1n)与镀液温度的倒数(1/T)呈直线关系,其斜率分别为3832.1、4438.3、6311.7和5712.1,据此可计算出铜化学沉积反应对应的活化能分别为Ea1=31.9KJ/mol、Ea2=36.9KJ/mol、Ea3=52.5KJ/mol、Ea4=47.5kJ/mol。
化学镀铜沉积速率受两方面因素的影响,一是化学沉铜活化能,二是受添加剂动力学参数影响的动力学过程。这可从(2)、(3)、(4)方程式看出。由于1nυ与1/T呈线性关系,各直线都有一固定的斜率和截距(如表1)。斜率反映出这种镀液中沉积铜的活化能大小,而截距则确定镀液中沉积铜的动力学过程。活化能和动力学过程共同决定镀速的大小。将图1中的曲线1与2、3或4进行比较,可推测在温度高到一定值时,两条直线将相交,低于交点温度,活化能起主要作用;高于交点温度,动力学过程起主要作用。当活化能起主要作用时,镀速随活化能减小而增大;而当动力学过程起主要作用时,即使铜沉积活化能较大,沉积速率仍较大。
表1  对应于图1的斜率和截距
镀液  斜率  活化能(KJ/mol)  截距
1 3832.1  31.9  14.3
2 4438.3  36.9  15.9
3 6311.7  52.5  20.9
4 5712.1  47.5  18.7
表2  不同温度下的沉铜速率   mg/cm2·h
温度(℃)  35  40  45  50  55  60  65  70
υ1  6.36  8.58  10.91  12.06  12.55  15.80  19.49  24.78
υ2  4.57  5.81  7.54  9.58  11.82  13.33  17.12  18.36
υ3  1.69  2.31  3.06  3.53  5.53  8.17  9.12  11.59
υ4  1.39  1.58  1.79  3.06  3.53  4.14  6.55  8.08
    表2表示在不同温度下的铜沉积速率。一般来说,活化能越小,沉积率应该越大。表2结果基本上符合这一规律。但从表2也发现Ea3>Ea4而υ3>υ4。这是因为:
    υ3=A[a,a’-联吡啶]fexp(-Ea3/RT)=e20.9·exp(-52475/RT)
υ4=A[K4Fe(CN)6]e’[a,a’-联吡啶]fexp(-Ea4/RT)=e18.7exp(-47490/RT)比较以上两式可知,虽然exp(-52475/RT)<exp(-47490/RT),但是e20.9>e18.7且后者较前者作用显著,所以υ3>υ4。由于A[K4Fe(CN)6]e[a,a’-联吡啶]f=e18.7并非A[a,a’-联吡啶]f=e20.9和A[K4Fe(CN)6]e=e15.9的简单加和,故e≠e,f’≠f。这说明a,a’-联吡啶和K4Fe(CN)6混合加入时铜沉积的动力学过程与其单独存在时不同。它们对铜的化学沉积产生协同影响效应。从图1中曲线2,3的比较可发现,a,a’-联吡啶对铜沉积速率的抑制作用大于K4Fe(CN)6,这是因为两者的抑制机理不同,a,a’-联吡啶通过有效地抑制甲醛的氧化而抑制沉铜速率:而K4Fe(CN)6则主要使Cu2+的还原峰电位负移并使其极化曲线的极化度增加,从而阻碍Cu2+的还原析出[1]。又由于甲醛的阳极氧化反应是化学镀铜的控制步骤[6],因此a,a’-联吡啶的抑制作用大于K4Fe(CN)6。
4.2 温度与添加剂对镀层、镀液性能的影响
    实验发现,在未加添加剂时,所获得的铜镀层呈褐色。镀液温度从35℃升高到70℃,镀层由灰暗逐渐转变为光亮。导致镀层颜色发暗的原因是,在化学沉积铜过程中伴随着形成Cu2O的副反应:
    2Cu2+十HCHO十5OH-→Cu2O十HCOO-十3H2O
    生成的Cu2O与Cu共沉积而夹杂于镀层中,影响镀层外观和性能。随着温度上升,Cu2O被氧化(如被鼓入的空气氧化)的速度和在镀液中溶解的速度[7]增大,夹杂于镀层中的含量减少,从而使沉积层颜色得以改善,略呈铜红色。此外,镀层亮暗与施镀时间也有关,化学镀时间短,则镀层光亮;沉积时间长,则镀层灰暗。这是因为,沉积初期镀液中Cu2O含量少;随着施镀时间的延长,产生的Cu2O不断增多,逐渐引起夹杂共沉积。

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